Tunnelmikroskopie

Tụn|nel|mi|k|ro|s|ko|pie [↑ Tunneleffekt] Syn.: Raster-Tunnelmikroskopie (RTM; STM, 1): eine Methode der ↑ Elektronenmikroskopie, bei der eine extrem feine Metallspitze berührungsfrei, aber in atomarem Abstand, zeilenweise (»rasternd«) über die Oberfläche eines zu untersuchenden leitenden Feststoffs geführt wird. Der als Messgröße zwischen Nadelspitze u. den einzeln abgetasteten Atomen fließende »Tunnelstrom« lässt sich in ein topographisches Abbild der Festkörperoberfläche in atomarem Maßstab umwandeln. Die RTM dient nicht nur zur Untersuchung reiner oder bedeckter Metall- oder Halbleiteroberflächen, sondern auch zur gezielten Entfernung oder Verschiebung einzelner Atome oder Moleküle in den Oberflächen.